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    簡單介紹:
    ATX280涂層測厚儀|漆膜測厚儀是一種實用型便攜式測量儀,能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量,既可用于實驗室,也可用于工程現場,使用不同的測頭,可滿足多種測量的需要,ATX280涂層測厚儀廣泛地應用在制造業、金屬加工、化工、商檢等領域,是材料保護專業必備的儀器。
    詳情介紹:
    ATX280涂層測厚儀概述
       ATX280涂層測厚儀|漆膜測厚儀是一種實用型便攜式測量儀,能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量,既可用于實驗室,也可用于工程現場,使用不同的測頭,可滿足多種測量的需要,廣泛地應用在制造業、金屬加工、化工、商檢等領域,是材料保護專業必備的儀器。
    ATX280涂層測厚儀符合以下標準:
    • GB/T4956-1985 磁性方法
    • GB/T4957-1985 渦流方法
    • JB/T8393-1996 磁性和渦流覆層測厚儀
    • JJG889-95 《磁阻法測厚儀》
    • JJG818-93 《電渦流式測厚儀》 
    ATX280涂層測厚儀功能特點
    • 采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可無損地測量:
       1、磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金等)上非磁性覆層厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)
       2、非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆層厚度(如:橡膠、油漆、陽極氧化膜等)
    • 可使用7種測頭(F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1)
    • 菜單顯示
    • 具有兩種測量方式:連續測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)
    • 具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)
    • 設有五個統計量:平均值、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測試次數(NO.)、標準偏差
    • 可采用單點校準和兩點校準兩種方法對儀器進行校準,并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正
    • 具有存貯功能:可存貯495個測量值
    • 具有刪除功能:對測量中出現的單個可疑數據進行刪除,也可刪除存貯區內的所有數據
    • 可設置限界:對限界外的測量值能自動報警
    • 具有電源欠壓指示功能
    • 操作過程有蜂鳴聲提示
    • 具有錯誤提示功能,通過屏顯或蜂鳴聲進行錯誤提示
    • 設有兩種關機方式:手動關機方式和自動關機方式
    ATX280涂層測厚儀技術參數
    • 測頭類型:可選,見涂層測厚儀探頭參數表
    • 測量原理:磁感應和電渦流
    • 測量范圍:0-1250um(F1) | 0-1250um(N1) 0-40um(銅上鍍鉻)
    • 低限分辨力:0.1um
    • 探頭連接方式:分體
    • 示值誤差:F | N
       1.一點校準(um):±[2%H+1]
       2.兩點校準(um):±[(1%~2%)H+1]
    • 測量條件:F | N
       1.最小曲率半徑(mm):凸1.5 | 凹9
       2.基體最小面積的直徑(mm):ф7
       3.最小臨界厚度(mm):0.5
       4.最小曲率半徑(mm):凸3 | 凹10
       5.基體最小面積的直徑(mm):ф5
       6.最小臨界厚度(mm):0.3
    • 溫濕度:0~40℃ | 20%RH~90%RH
    • 統計功能:平均值、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測試次數(NO.)、標準偏差
    • 工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
    • 測量方式:連續測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)
    • 上下限設置:有
    • 存儲能力:500個測量值
    • 關機方式:手動和自動
    • 電  源:兩節1.5v電池
    • 外形尺寸:50×120×25mm
    • 重   量:350g
    ATX280涂層測厚儀基本配置
    • ATX280涂鍍層測厚儀主機
    • F測頭或N測頭
    • 標準片一套
    • 鐵基體或鋁基體
    • 電池
    • 使用說明書

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